Classification de la structure cristalline utilisant un apprentissage machine

La diffraction des rayons x se réfère au phénomène dans lequel quand un rayon x incident est irradié sur une matière, un fort rayon x est dirigé dans différents sens particuliers à partir du rayon x incident. L’intensité et le sens de la diffraction du rayon x sont différents selon le type et la structure des atomes formant la matière, donc en étudiant la diffraction du rayon x en utilisant ces caractéristiques peut apporter des connaissances sur la microstructure de la matière. Aujourd’hui, la diffraction des rayons x est largement utilisée dans la recherche sur la matière séparément de la science de base, ainsi que les domaines industriels comme le semiconducteur et les industries des métaux.
Notre développement de la classification automatique de la structure cristalline a comme objectif l’analyse automatique de la structure cristalline d’une matière arbitraire utilisant des schémas de diffraction des rayons x. En utilisant ICSD (Données de base de la structure cristalline inorganique), une grande base de données contenant des informations sur la structure cristalline d’environ 180 000 composés inorganiques, nous sommes dans le processus de développement d’un analyseur automatique de la structure cristalline en obtenant un schéma de diffraction des rayons x de chaque matière et en imputant ces informations à travers un apprentissage machine.